Atom-Probe Field Ion Microscopy - Tien T. Tsong
-40% koodiga BOOKS
Saadetis 15-21 tööpäeva jooksul
30-päevane tagastamisõigus
The book will be of interest to scientists working on surfaces and interfaces of materials at the atomic level and will provide a useful reference for those using this technique.
Võib-olla meeldib sulle ka
Kirjeldus
The book will be of interest to scientists working on surfaces and interfaces of materials at the atomic level and will provide a useful reference for those using this technique.
Lisateave
| Autor | Tien T. Tsong |
|---|---|
| Kirjastaja | Cambridge University Press |
| Väljalaskeaasta | 2005 |
| Kaanetüüp | Pehme kaanega |
| EAN | 9780521019934 |