High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography - D. K. Bowen,Brian K. Tanner
-40%
Keel
inglise keel
Kaane
Pehme kaanega
Avaldatud
2019-10-10
118,25 €
197,08 €
-40% koodiga BOOKS
Pehme kaanega
197,08 €
Kõvakaaneline
Meie tarnija laos
Saadetis 15-21 tööpäeva jooksul
30-päevane tagastamisõigus
Võib-olla meeldib sulle ka
Lisateave
| Autor | D. K. Bowen, Brian K. Tanner |
|---|---|
| Kirjastaja | Taylor & Francis Ltd (Sales) |
| Väljalaskeaasta | 2019 |
| Kaanetüüp | Pehme kaanega |
| EAN | 9780367400637 |
Kirjuta oma arvustus
Goodreads'i arvustused
118,25 €
197,08 €