Tasuta kohaletoimetamine tellimustele üle 29 €
  • check 10+ miljonit raamatut
  • check Uued tooted iga päev
  • check Meid usaldab üle 1 miljoni kliendi
  • check Hea hind ja allahindlused
  • check Tarne üle kogu Euroopa

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography - D. K. Bowen,Brian K. Tanner

inglise keel
2019-10-10
118,25 € 197,08 €

-40% koodiga BOOKS

Meie tarnija laos

Saadetis 15-21 tööpäeva jooksul

30-päevane tagastamisõigus

Võib-olla meeldib sulle ka

Lisateave

Autor D. K. Bowen, Brian K. Tanner
Kirjastaja Taylor & Francis Ltd (Sales)
Väljalaskeaasta 2019
Kaanetüüp Pehme kaanega
EAN 9780367400637
Kirjuta oma arvustus
Te vaatate: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Teie hinnang:

Goodreads'i arvustused

118,25 € 197,08 €